工作職責(zé)：

1. 負(fù)責(zé)CP、FT量產(chǎn)測試的開發(fā)，包括測試規(guī)范/流程的制定，ATE測試程序的開發(fā)及調(diào)試，測試機(jī)臺(tái)選型，供應(yīng)商評(píng)估，以及Loadboard設(shè)計(jì)，Socket，Probe card等治具的評(píng)估選型；

2. 與 IC 設(shè)計(jì)和 DFT 團(tuán)隊(duì)配合完成芯片 CP/FT 測試程序開發(fā)、轉(zhuǎn)換及調(diào)試；

3. 負(fù)責(zé)完成芯片特性化分析的數(shù)據(jù)收集 ；

4. 負(fù)責(zé)芯片產(chǎn)品在 OSAT 廠的量產(chǎn)測試 NPI 導(dǎo)入、工廠調(diào)試和量產(chǎn)測試維護(hù)；負(fù)責(zé)整理和分析量產(chǎn)測試數(shù)據(jù)，并解決量產(chǎn)測試中的異常；

5. 在量產(chǎn)階段，持續(xù)優(yōu)化和改善 ATE 測試方案，提升測試質(zhì)量、提高測試效率、降低測試成本；

6. 負(fù)責(zé)與產(chǎn)品量產(chǎn)測試相關(guān)的低良率處理、失效分析、品質(zhì)保證及良率改善等方面的工作。

任職要求：

1．電子、微電子相關(guān)專業(yè)本科及以上學(xué)歷，二年以上相關(guān)工作經(jīng)驗(yàn)；

2．熟悉ATE測試開發(fā)流程，具備混合信號(hào)ATE測試軟硬件開發(fā)和量產(chǎn)導(dǎo)入經(jīng)驗(yàn)者優(yōu)先；

3．具備主流測試機(jī)如93K、J750程序開發(fā)和調(diào)試能力，熟練使用常用的測試儀器；

4．較強(qiáng)的學(xué)習(xí)能力、工作主動(dòng)性，良好的獨(dú)立工作能力、責(zé)任心強(qiáng)，良好的溝通能力及團(tuán)隊(duì)合作能力。