崗位職責(zé):
1. 負(fù)責(zé)內(nèi)存(DRAM)的系統(tǒng)測(cè)試程序或ATE測(cè)試程序開(kāi)發(fā)與新平臺(tái)導(dǎo)入,測(cè)試流程優(yōu)化等。;
2. 與上下游合作,開(kāi)發(fā)并且持續(xù)優(yōu)化測(cè)試程序框架。;
3. 產(chǎn)品失效分析,提升系統(tǒng)級(jí)別內(nèi)存測(cè)試覆蓋率加強(qiáng)和測(cè)試時(shí)間減少
4. 與產(chǎn)品部門合作提升產(chǎn)品良率,能夠設(shè)計(jì)工程實(shí)驗(yàn),分析以及撰寫報(bào)告;
5. 負(fù)責(zé)測(cè)試異常情況的分析、處理;生產(chǎn)線異常事件處理與改善項(xiàng)目追蹤。
任職要求:
1. 本科及以上學(xué)歷,電子,半導(dǎo)體材料,通信,測(cè)控以及自動(dòng)化相關(guān)專業(yè);微電子、電子信息、電子工程優(yōu)先;
2. 具有較強(qiáng)的邏輯思維和獨(dú)立解決問(wèn)題能力;
3. 具有良好人際溝通能力、主動(dòng)性及團(tuán)隊(duì)合作精神;
4.熟悉UEFI、Linux和Android內(nèi)存測(cè)試程序的開(kāi)發(fā);
5. 熟悉x86/ARM架構(gòu),有內(nèi)核、固件或BIOS的相關(guān)開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)優(yōu)先;
6. 具備內(nèi)存(DRAM)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)優(yōu)先;
7.熟悉Advantest/Teradyne ATE設(shè)備尤先,熟悉芯片測(cè)試原理及DFT方案設(shè)計(jì)驗(yàn)證優(yōu)先。